目次

  1. 展示会というより「技術商談の場」
  2. クリーニングシートを軸にした展示構成
  3. ブランド認知の広がりを実感
  4. なぜスラリーの質問が出るのか
  5. SEMICON Koreaから見えた市場の方向性
  6. 展示物 TDS 一覧
    1. SWF Serise
    2. NWE Serise
    3. LUAVIS

展示会というより「技術商談の場」

SEMICON Korea 2026 の会場に立ってまず感じたのは、
来場者の目的意識の高さだった。

今回マイポックスは、
現地代理店であるDAEYANG HI-TECHのブース内で、エンジニアが説明対応を行った。
単独出展ではなく、パートナー企業と連携したかたちでの参加である。

SEMICON JAPANやSEMICON WESTでは、
偶然の立ち寄りから会話が始まるケースも少なくない。

しかし韓国では、
関心テーマを持った来場者がピンポイントでブースを訪れ、
技術的な議論を深める傾向が強い。

展示会というよりも、
課題解決を前提とした技術商談の場という印象である。

DAEYANG HI-TECH社内マイポックス展示ブース
DAEYANG HI-TECH社内マイポックス展示ブース

クリーニングシートを軸にした展示構成

今回の展示は、
プローブカード用クリーニングシートを中心 に構成した。

あわせて、

  • 接合ウェハ(ガラス・SiC等)
  • WA4000発泡SLACウェハ
  • プリントウェハ 

といった実物サンプルも展示。

単なる製品説明ではなく、
「どの工程で」「どのような課題に効くのか」を
具体的にイメージできる構成を意識した。

来場者からは、

✔ 接触安定性の向上
✔ クリーニング頻度の最適化
✔ 歩留まり改善への影響

といった、工程起点の質問が多く寄せられた。

クリーニングシート展示物一覧
マイポックス展示物一覧

ブランド認知の広がりを実感

会話の中で印象的だったのは、
マイポックスのロゴを見て反応される場面があったことだ。

海外展示会では、 その場で初めて認知されるケースも少なくない。

しかし今回は、
以前から社名を知っていたという来場者もおり、
ブランドが確実に浸透している手応えを感じた。

これは数字には表れにくいが、
非常に重要な変化である。

初日の展示ブース来場者

なぜスラリーの質問が出るのか

今回も複数回聞かれたのが、

「スラリーは扱っていますか?」

という問いだった。

半導体工程において、
スラリーはウェーハ研磨で使用される主要材料である。

ウェーハの表面品質や平坦度を左右する重要要素であり、
クリーニング工程や仕上げ工程と密接に関連する。

そのため、

  • 研磨材
  • クリーニングシート
  • スラリー

を“同一カテゴリの技術群”として捉える来場者が多いのだろう。

これは、
市場が単品製品ではなく、
工程全体を俯瞰した包括提案を求めていることの表れでもある。

SEMICON Koreaから見えた市場の方向性

semiconKorea パネル

今回の展示を通じて感じたのは、

1.来場者は明確な課題を持って訪問している
2.工程全体での最適化に関心が高い
3.クリーニング工程は依然として重要テーマ

という点である。

SEMICON Koreaは、
単なる展示の場ではなく、
市場の成熟度を映す鏡でもある。

韓国市場の技術対話は、
確実に一段階進んでいる。


展示物 TDS 一覧

SWF Serise

SWFシリーズは、耐熱発泡ポリウレタン基材に研磨粒子を直接コーティングした構造を採用。
従来SWEの120℃耐熱仕様を150℃まで拡張した高耐熱モデルです。
高温下でも弾性特性を維持することで、プローブカードピンへの負荷を抑制し、安定した接触回復性能を実現します。

SWF series TDS

NWE Serise

NWEシリーズは、小径発泡ポリウレタン基材に研磨粒子を直接コーティングした構造を採用。
従来SWEの凹凸ピッチ約130μmに対し、約54μmまで微細化したファインピッチ(Fine Pitch)プローブカード対応モデルです。
微細化されたクッション層により、細径ピンや高密度配置ピンに対しても均一な支持と接触を実現。局所的な応力集中を抑制することで、プローブカードピンへの負荷を低減し、安定したクリーニング性能を発揮します。

NWE series TDS

LUAVIS

LUAVISシリーズは、SiC粒子を有するエラストマー層を採用したプローブカード用クリーニングシートです。-40℃〜180℃の耐熱環境に対応し、高温テスト工程でも安定した物性を維持します。
プローブピンに過度な摩耗や変形を与えることなく、効率的なクリーニングを実現します。 また、エラストマー層がプローブ形状に追従するため、MEMSプローブなど、繊細かつ変位量の小さいピン構造にも対応可能です。
高温・高密度・高精度化が進む半導体テスト工程において、ピンへのダメージを抑制しながら異物除去を行うクリーニングシートです。

LUAVIS TDS